ツァイススープラ55 | kingkapisi.com

ZEISS SUPRA 55-VP The ZEISS SUPRA55VP installed in the summer of 2004 is the latest high resolution FEGSEM for the analysis of materials and semiconductors, and with the variable pressure option the ability to look at beam sensitve and non-conducting samples. ZEISS Supra 55 2012 vintage. ID 9260646. Field Emission Scanning Electron Microscope FE-SEM DCG Z-Series nProber with EBC and TCP upgrades Probing: 8-Point 6.

会社創業者のカール・ツァイスが1846年にドイツ東部の都市、イエナに開設した精密機器および光学部品の工房がグループの原点となりました。現在は、ドイツ南西のオーバーコッヘンに本社をおいて事業を展開しています。. 场发射扫描电子显微镜 SUPRA? 55 配置: 探测器 Inlens 二次电子探测器 E-T 二次电子探测器 4Q BSD 背散射电子探测器 主要技术指标: 分辨率:1.0nm @ 15kV 1.7nm @ 1kV 4.0nm @ 0.1kV 放大倍数:12 ~ 900,000x 加速电压.

- 1 - ZEISS SUPRA-55 VP FIELD EMISSION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE LV FE-SEM Short form user procedure USER NOTES: • Must be certified to use instrument by. Combining several instruments in one, the SUPRA 55VP with the improved GEMINI® column is a true nanoscience FESEM. It provides ultra high resolution imaging over the complete voltage range with the ability to handle large. The ULTRA 55 represents the latest development in GEMINI® technology. Based on the SUPRA 55, the ULTRA 55 now comprises a fully integrated Energy and angle selective Backscattered electron EsB detector. The ULTRA 55. SUPRA® Series One for all – the most versatile FE-SEM family currently available Facing the daily challenge – the workhorse for routine examinations, failure analysis, process control and cryo applications High end research. Scanning Electron Microscopes SEM scan a sample with a focused electron beam and get images with information about the samples’ topography and composition. CSEMs conventional SEMs with a thermic electron source and.

Image large fields of view with excellent image quality and fast-time-to-image. Count on efficient detection, excellent resolution and distortion-free, large area images. Profit from the novel optical design’s high gun resolution mode that. Information The Zeiss SUPRA 55-VP is a scanning electron microscope SEM with a field emission electron gun FEG. This is the brightest type of electron source and gives the highest beam current and resolution capability. The.

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